漆膜厚度儀測(cè)量時(shí)在空中按開機(jī)鍵開機(jī)，然后聽到“bi”的一聲，漆膜測(cè)厚儀進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)，每次開機(jī)默認(rèn)單次測(cè)量狀態(tài)；將探頭輕壓到有涂層的金屬基底上，測(cè)厚儀發(fā)出bibi兩聲，顯示被測(cè)涂層厚度值n；按MODE鍵，可選擇測(cè)量方式，有單次測(cè)量、連續(xù)測(cè)量、差值測(cè)量三種測(cè)量方式可供選擇；按UNIT鍵，可選擇測(cè)量單位，可選mm，mil。

　　我們?cè)谑褂闷崮ず穸葍x時(shí)應(yīng)遵守相關(guān)規(guī)定：

　　1.基體金屬特性

　　對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似；

　　對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

　　2.基體金屬厚度：檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，如果沒有，可采用其它方法進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　3.邊緣效應(yīng)：不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。

　　4.曲率：不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。

　　5.讀數(shù)次數(shù)：通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。

　　6.表面清潔度：測(cè)量前應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。